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　　了解Surtronic S116粗糙度儀的參數選擇

　　為研究表面粗糙度對零件性能的影響和度量表面微觀不平度的需要，從20年代末到30年代，歐美等國等設計制作了輪廓記錄儀、輪廓儀，給從數值上定量評定表面粗糙度創造了條件。

　　30年代起，已對表面粗糙度定量評定參數進行了研究，美國人提出了用距表面輪廓峰頂的深度和支承長度率曲線來表征表面粗糙度。1936年出版了表面粗糙度的專著，對表面粗糙度的評定參數和數值的標準化提出了建議。

　　但粗糙度評定參數及其數值的使用，真正成為一個被廣泛接受的標準還是從40年代各國相應的標準發布以后開始的，這樣的儀器設備就叫粗糙度儀，由于以前叫表面光潔度所以表面粗糙度儀人們又習慣的成為表面光潔度儀。

　　Surtronic S116粗糙度儀的參數怎樣選擇呢？

　　1.對于光滑表面和半光滑表面一般采用Ra作為評定參數。Ra值反映實際輪廓微觀幾何形狀特性的信息量大，而且Ra值用觸針式電動輪廓儀測量比較容易。

　　2.對于極光滑和極粗糙表面，宜采用Rz作為評定參數。Rz值通常用非接觸式的光切顯微鏡測量。但Rz不如Ra對表面微觀幾何形狀特征反映的全面。

　　3.對不允許出現較大加工痕跡和受交變應力作用的表面，應采用Ry作為評定參數。Ry概念簡單、測量簡便，但Ry不如Ra或Rz反映全面。因此對于狹小表面，Ry具有實際意義。另外可按實際情況，Ry與Ra或Rz聯用，綜合控制表面粗糙度。

　　4.對密封性要求高的表面，可使用間距特性參數Sm和S。

　　5.對耐磨性要求高的表面可規定tp。