XAN 220 金屬分析 X 射線熒光測量儀信息
更新時間：2025-06-03 點擊次數(shù)：308次
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 是一款專為貴金屬分析優(yōu)化的用戶友好型臺式能量色散 X 射線熒光（EDXRF）測量儀，可對珠寶、硬幣、貴金屬及其合金的成分和涂層厚度進行快速無損分析。其創(chuàng)新設(shè)計與智能化功能融合，為實驗室及生產(chǎn)現(xiàn)場提供精準(zhǔn)、高效的檢測解決方案。
自下而上測量架構(gòu)：
X 射線源與半導(dǎo)體探測器集成于儀器下腔室，通過透射式窗口支撐樣品，測量方向從樣品下方穿透，無需人工調(diào)整角度，尤其適合戒指、硬幣等不規(guī)則形狀樣品的快速定位。
高清視頻顯微鏡輔助：
內(nèi)置帶變焦功能與十字準(zhǔn)線的視頻顯微鏡，可實時放大樣品細節(jié)（如珠寶鑲嵌點、硬幣齒紋），精準(zhǔn)鎖定微米級測量區(qū)域，避免因定位偏差導(dǎo)致的檢測誤差。
WinFTM® 專業(yè)分析軟件：
一鍵式操作：從測量參數(shù)設(shè)置（30/40/50kV 三檔電壓可調(diào)）、數(shù)據(jù)采集到多元素濃度 / 涂層厚度結(jié)果生成全程自動化，兼容固體、液體及多層涂層樣品。
可視化數(shù)據(jù)分析：以圖表形式動態(tài)呈現(xiàn)元素占比（如金、銀、鉑含量）、涂層厚度分布（如銠鍍層均勻性），支持歷史數(shù)據(jù)對比，便于批量樣品質(zhì)量追溯。
合規(guī)性報告生成：內(nèi)置DIN ISO 3497（貴金屬純度測定）與ASTM B 568（鍍層厚度測量）標(biāo)準(zhǔn)模板，自動匹配檢測結(jié)果，簡化第三方認證流程。
服務(wù)熱線：86-021-58951091
