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儀器用途

鍍層厚度測量：可對單金屬鍍層、合金鍍層、雙鍍層以及三鍍層等進行厚度測量，廣泛應用于電子、汽車、航空航天等行業，確保產品鍍層質量符合標準。

材料分析：能夠分析金屬鍍層、薄膜、電子元器件、液體、粉末等多種材料，確定其元素組成和含量。

工作原理：利用 X 射線熒光原理，當 X 射線照射到被測樣品表面時，樣品中的元素會吸收 X 射線能量并發射出特征熒光 X 射線。不同元素發射的熒光 X 射線能量不同，通過檢測這些熒光 X 射線的能量和強度，結合儀器內置的校準曲線和算法，就可以精確測量出鍍層的厚度以及元素組成。