MINITEST 720Elektrophysik真品代理涂層測厚儀

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MINITEST 720Elektrophysik真品代理涂層測厚儀

MINITEST 720

儀器信息簡述

內置探頭，數(shù)據(jù)記憶組數(shù)10組，存儲量zui多10000個，可統(tǒng)計顯示讀值個數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置），校準模式有出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節(jié)補償值，校準程序符合標準和規(guī)范ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準，有極限值監(jiān)控功能，超過所設置的極限值時會有光學和聲學報警，紅外線接口，2節(jié)AA電池。

探頭采用SIDSP技術（數(shù)字信號處理技術），使測量不受干擾，提高了測量結果的性和可靠性。溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤，菜單指引操作，25種語言可選

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內部32位信號處理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下zui大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)