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MiniTest 7400測(cè)厚儀Elektrophysik批量出貨

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MiniTest 7400測(cè)厚儀Elektrophysik批量出貨

配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個(gè)多用接線盒可用來(lái)作為一個(gè)USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開(kāi)關(guān)或警報(bào)器。對(duì)于單個(gè)裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。

性能特點(diǎn)：

所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量

多種圖形顯示選項(xiàng)

菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理

用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件

測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭

SIDSP®技術(shù)提升度和重現(xiàn)性

MiniTest 7400測(cè)厚儀Elektrophysik批量出貨

模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)。

SIDSP®明顯優(yōu)勢(shì)

EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對(duì)溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP®的主要特點(diǎn)。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)化校準(zhǔn)過(guò)程，而且每個(gè)探頭可獨(dú)立校準(zhǔn)，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢(shì)。的精密生產(chǎn)過(guò)程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

MiniTest 7400測(cè)厚儀內(nèi)存容量

應(yīng)用程序內(nèi)存數(shù)量10

每個(gè)應(yīng)用程序存儲(chǔ)器的批次數(shù)

具有單個(gè)值記憶的批次數(shù)量100

單個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量10,000

統(tǒng)計(jì)

從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。

從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，kvar，n，max。，min。

塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

從同一應(yīng)用程序（APPL）中的所有子組（BATCH）

分別將值和統(tǒng)計(jì)打印到APPL-BATCH組

顯示和打印輸出和測(cè)量時(shí)的日期和時(shí)間（年，月，日，小時(shí)，分鐘）

校準(zhǔn)方法

通過(guò)涂層校準(zhǔn)（CTC）

粗糙表面測(cè)量。幾乎可以消除粗糙度的影響

OFFSET函數(shù)添加或減少常量值

外部功能（觸發(fā)）將讀數(shù)傳送到存儲(chǔ)器

鍵鎖定以保護(hù)校準(zhǔn)

電池更換期間保存讀數(shù)

限制設(shè)置

測(cè)量單位為微米或密耳

篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。